2016-02-01
新拓為拓展半導體故障分析真空 AFM 應用，延攬相關技術人才提升售後服務支援能量
半導體 IC 線寬日益縮小，現有大氣 AFM 機種的電性故障分析已面臨量測瓶頸，也因此真空 AFM 機種逐漸展露頭角 (真空環境在電性故障分析的相關應用可參考網站"技術情報")，新拓是目前國內唯一具備真空 AFM 電性故障分析實務的代理商，為因應客戶需求已於今年陸續招攬相關人才加入技術團隊!
2015-12-16
新拓於清大奈材中心開課 AFM/SPM 寒假訓練課程
新拓受邀國立清華大學奈微與材料科技中心舉辦 AFM/SPM 暑期訓練課程，於 2016 年 2 月1 日下午 1:30 至 3:30 講授 AFM 原理與應用，歡迎有興趣者踴躍報名參加。詳情請上國立清華大學奈微與材料科技中心官方網站報名 ( http://cnmm.web.nthu.edu.tw/files/14-1012-46027,r632-1.php?Lang=zh-tw ) 。
2015-11-01
新拓將於11月20至21日參加2015年材料年會
新拓將與翕澤科技合作於2015材料年會(高雄中鋼公司中正堂)參展，主要著重於 AFM/SPM 與 TOF-SIMS 等表面成像分析領域，歡迎有興趣者現場蒞臨指教。
2015-09-01
Hitachi 將於 ISTFA 2015 發表 AFM 故障分析 Poster Session
AFM5300E 真空型 AFM 已被驗證對於半導體故障分析的解析度與再現性有著大幅度的提升，特別是在表面電容 (SCM) 與延伸電阻 (SSRM) 上的應用。
2015-06-01
新拓於清大奈材中心開課 AFM/SPM 暑期訓練課程
新拓受邀國立清華大學奈微與材料科技中心舉辦 AFM/SPM 暑期訓練課程，於 7/13 與 8/13 下午 1:30 至 3:30 講授 AFM 原理與應用，歡迎有興趣者踴躍報名參加。詳情請上國立清華大學奈微與材料科技中心官方網站報名。
2015-03-01
Hitachi 發表 SEM 與 AFM 共用樣品載台連動機制
此部件將有效結合 SEM 功能與 AFM 成像，提供最佳的原位成像與分析。詳細說明可以參考 : Microscopy and Analysis | SPM supplement March/April 2015, P.15。
2015-02-01
Hitachi 發表最新一代 AFM5000 II 控制平台
AFM5000 II 第二代控制器將提供 AFM5100N / AFM5300E 機種使用，並全面更新 AFM 操作介面，並導入 3D Overlay 最新圖像處理技術。
2014-12-01
新拓於清大奈材中心開課 AFM/SPM 寒假訓練課程
新拓受邀國立清華大學奈微與材料科技中心舉辦 AFM/SPM 寒假訓練課程，於 1/26 下午 1:30 至 3:30 講授 AFM 原理與應用，歡迎有興趣者踴躍報名參加。詳情請上國立清華大學奈微與材料科技中心官方網站報名。
2014-01-01
Hitachi 推出新世代 AFM5000 控制平台
Hitachi 推出最新世代 AFM5000 控制平台，將提供 AFM5100N / AFM5300E / AFM5400L 機種使用，並導入新一代的分析軟體供用戶選擇。
